基本信息
标准名称: | 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 |
英文名称: | Semiconductor integrated circuits-General principles of measuring methods for voltage comparators |
中标分类: | 电子元器件与信息技术 >> 微电路 >> 微电路综合 |
ICS分类: | 电子学 >> 电子管 |
替代情况: | SJ/T 10805-1996(原标准号GB/T 6798-1986) |
发布部门: | 中华人民共和国信息产业部 |
发布日期: | 2000-12-28 |
实施日期: | 2001-03-01 |
首发日期: | 1900-01-01 |
作废日期: | 1900-01-01 |
提出单位: | 中华人民共和国信息产业部 |
归口单位: | 中国电子技术标准化研究所 |
起草单位: | 中国电子技术标准化研究所 |
起草人: | 李燕荣、崔忠勤 |
出版社: | 电子工业出版社 |
出版日期: | 2001-02-01 |
页数: | 32页 |
适用范围
本规范规定了半导体集成电路电压比较器(以下简称器件)电特性测试方法的基本原理。
本规范适用于半导体集成电路电压比较器电特性的测试。
前言
没有内容
目录
没有内容
引用标准
SJ/T 10734-1996 半导体集成电路文字符号 电参数文字符号
所属分类: 电子元器件与信息技术 微电路 微电路综合 电子学 电子管